FREE

Hồ sơ

Công ty cổ phần ATQ Quốc gia: Việt Nam Tỉnh thành: Hà Nội Ngày tham gia: 09/12/2012 Thành viên miễn phí Sản phẩm chính: Lượt truy cập: 104,293 Xem thêm Liên hệ

Thiết bị đo bề dày lớp phủ và vật liệu có thể xuất dữ liệu TI-CMXDLP

Ngày đăng: 18/12/2012

Liên hệ

Xuất xứ: Mỹ

Bảo hành: 12 tháng

Phương thức thanh toán: Thỏa thuận

Khả năng cung cấp: Thỏa thuận

Đóng gói: Không

Liên hệ

Thông tin chi tiết

Đặc tính kỹ thuật:
Tự động nhận dạng đầu đo và hiệu chuẩn Zero
Ứng dụng rộng với các loại đầu đo cấu tử kép
Lựa chọn chế độ phát Rất thấp, thấp, trung bình, cao và rất cao
64 chương trình khách hàng cài đặt
Thông số kỹ thuật:
Với cách đo xung phản hồi thì dải do là: 0.025 to 19.999 inches (0.63 to 500mm) đối với thép
Với cách đo lặp xung thì dải do là: 0.1 to 4 inches (2.54 to 102mm)
Đối với lớp phủ dải đo: 0.0005" - 0.1000" / Độ phân giải: 0.0001"
Với từng phần dải đo: (0.013 - 2.540 mm / Độ phân giải: 0.001 mm) 
Max lớp phủ: 0.1"(2.54mm)
Độ phân giải chung: 0.01mm
Màn hình: 4½ - Digit, 0.5" Backlit LCD 
Vận tốc sóng âm: 0.0492-0.3937 in/µs
 (1250 -10,000 m/sec) 
Đầu dò: đường kính 1/4", 5 MHz,
Loại: PEEK (Polyethylethylkytone) 
Cáp nối: 4ft. (1.2m) cáp không thấm với dung môi không phân cực, kết nối và ngắt nhanh chóng
Loại đầu ra: RS-232C (8, N, 1, đựoc cài đặt) 
Màn hình: 1/8 in. VGA grayscale display 62 x 45.7mm 
Nhiệt độ môi trường: -20 to 120° F (-30 to 50° C)
Nhiệt độ vật liệu: 0 to 200° F (-20 to 100° C) Special high temperature probes are optionally available 
3 pin 1.5V alkaline hoặc 1.2V NiCad AA  
Thời gian hoạt động 150 giờ với pin alkaline,100 giờ với pin nicad
Trọng lượng: 383g 
Kích thước: 63.5 W x 165 H x 31.5 D mm
Ghi lại dữ liệu đọc được
Tự động tắt nguồn sau 5 phút không sử dụng